Bağış 15 Eylül 2024 – 1 Ekim 2024 Bağış toplama hakkında

Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей...

Main
Technique - Nanotechnology
Исследование наноматериалов с помошчью...

Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Методичка.

0 / 0

Bu kitabı ne kadar beğendiniz?

İndirilen dosyanın kalitesi nedir?

Kalitesini değerlendirmek için kitabı indirin

İndirilen dosyaların kalitesi nedir?

Kategoriler:

Technique - Nanotechnology

Yıl:

2008

Dil:

russian

Sayfalar:

32

Dosya:

PDF, 1.56 MB

IPFS:

,

russian, 2008

Online Oku

'e dönüştürme devam ediyor

dosyasına dönüştürme başarısız oldu

İlginizi çekebilir

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Тарасова Н. В. — Атомно-силовая микроскопия в материаловедении наносистем

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. — Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Владимирова Л. Н., Бормонтов Е. Н., Петраков В. И. — Определение удельного сопротивления полупроводников четырехзондовым методом

coll. — Методы получения и исследования нанопорошков

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Лапшин Р.В. — Объекто-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

Anahtar ifadeler

сканирования

поверхности

литографии

взаимодействия

туннельного

изображения

колебаний

величину

изображение

управления

воздействия

параметров

силового

выполнения

измерений

напряжение

образцом

прибором

установите

зондового

измерительной

напряжения

поверхность

программы

расстояния

микроскопа

получение

амплитуды

величина