Основы сканирующей зондовой микроскопии
Миронов В. Л.
Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).
Примеры страниц
Опубликовано группой
Примеры страниц
Опубликовано группой
Kategoriler:
Yıl:
2004
Yayımcı:
РАН, Институт физики микроструктур
Dil:
russian
Sayfalar:
114
Dosya:
PDF, 3.17 MB
IPFS:
,
russian, 2004